元件取、放挑選機能力

2021-09-01

各種類型配置：

Wafer ⇒ (背檢or測試系統) ⇒ 分類

Tray盤 ⇒ (背檢or測試系統) ⇒ Tray盤

Wafer ⇒ (背檢or測試系統) ⇒ Tray盤

Wafer ⇒ (背檢or測試系統) ⇒ 封裝

Wafer ⇒ (背檢or測試系統) ⇒ Wafer

Detape ⇒ (背檢or測試系統) ⇒ Wafer

Wafer ⇒ 背檢 ⇒ Die置入焊接盤內 ⇒ 自動收料